針對IC半導更具有競爭力的"溫度變化試驗箱"
溫度變化試驗箱（）具有較寬的溫度控制范圍，可滿足用戶的各種實驗溫度需要，采用平衡調(diào)溫方式，穩(wěn)定、平衡的加熱及降溫能力，可控精度高、穩(wěn)定性好。
溫度變化試驗箱又稱加速LED老化壽命試驗箱時間均智能可調(diào)。相關測試參數(shù)可根據(jù)用戶需要自由設定，從而實現(xiàn)LED額定要作條件下的常規(guī)老化試驗和過載沖擊條件下的加速老化試驗。系統(tǒng)具有可靠性好、調(diào)節(jié)方便、壽命長等優(yōu)點，是LED老化試驗的先。
【老化試驗風扇設備】
產(chǎn)品的質(zhì)量控制是一個公司能否長久發(fā)展的重要因素，為了達到滿意的合格率，產(chǎn)品在出廠前都需先經(jīng)過老化。在產(chǎn)線上如何才能夠在不縮減老化時間的條件下提高其效率？并對進行過老化測試的產(chǎn)品的測試信息形成可追索文檔。本文介紹在老化過程中進行功能測試的新方案，在老化測試的同時進行功能測試，并監(jiān)測產(chǎn)品的測試條件和產(chǎn)品的輸入輸出參數(shù)。
老化就是通過讓半導體進行超負荷工作而使缺陷在短時間內(nèi)出現(xiàn)，避免在使用早期發(fā)生故障。在半導體業(yè)界，器件的老化問題一直存在各種爭論。半導體隨時可能因為各種原因而出現(xiàn)故障，如果不經(jīng)過老化，很多半導體成品由于器件和制造工藝復雜性等原因在使用中會產(chǎn)生很多問題。在開始使用后的幾小時到幾天之內(nèi)出現(xiàn)的缺陷稱為早期故障，老化之后的器件基本上要求通過這段時間。準確確定老化時間的方法是參照以前收集到的老化故障及故障分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。
本系統(tǒng)用于大批量小型風扇煲機測試，采集煲機過程中的風扇運行的電流、電壓、轉(zhuǎn)速及電流的波形，形成測試過程數(shù)據(jù)，用于監(jiān)控分析產(chǎn)品質(zhì)量。
【led及半導體燈具測試】
led及半導體燈具系統(tǒng)是根據(jù)客戶的新要求結(jié)合現(xiàn)場實際，由我公司自主研發(fā)設計的一種新型多功能的led及半導體燈具。適用于各種型號的路燈、應急燈、球泡燈、射燈及洗墻燈等的老化和壽命測試；步入式溫度變化試驗艙操作簡單方便，性能穩(wěn)定可靠，擴展自由，為您分析產(chǎn)品性能、查找產(chǎn)品缺陷、提升產(chǎn)品質(zhì)量提供強有力的數(shù)據(jù)支撐。
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